Obraz może przedstawiać obraz.
Szczegóły produktu można znaleźć w specyfikacjach.
Szczegóły produktu można znaleźć w specyfikacjach.
SN74BCT8374ADWRE4
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Numer części
SN74BCT8374ADWRE4
Producent/marka
Seria
74BCT
Stan części
Obsolete
Opakowanie
Tape & Reel (TR)
temperatura robocza
0°C ~ 70°C
Typ mocowania
Surface Mount
Opakowanie/etui
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pakiet urządzeń dostawcy
24-SOIC
Napięcie zasilania
4.5 V ~ 5.5 V
Liczba bitów
8
Typ logiczny
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Poproś o wycenę
Wypełnij wszystkie wymagane pola i kliknij „WYŚLIJ”, skontaktujemy się z Tobą w ciągu 12 godzin e-mailem. Jeśli masz jakiś problem, zostaw wiadomość lub wyślij e-mail do [email protected], odpowiemy tak szybko, jak to możliwe.
W magazynie 22715 PCS
Informacje kontaktowe
Produkty powiązane
Słowa kluczowe SN74BCT8374ADWRE4
SN74BCT8374ADWRE4 Części elektroniczne
SN74BCT8374ADWRE4 Obroty
SN74BCT8374ADWRE4 Dostawca
SN74BCT8374ADWRE4 Dystrybutor
SN74BCT8374ADWRE4 Tabela danych
SN74BCT8374ADWRE4 Zdjęcia
SN74BCT8374ADWRE4 Cena
SN74BCT8374ADWRE4 Oferta
SN74BCT8374ADWRE4 Najniższa cena
SN74BCT8374ADWRE4 Szukaj
SN74BCT8374ADWRE4 Nabywczy
SN74BCT8374ADWRE4 Chip